Um novo dispositivo eletrônico para medição de camada semi redutora em feixes de raios X diagnósticos por exposição única
A new electronic device for measuring half-value layer in diagnostic X-rays by single exposure
Onusic, Daniel Massaro; Moura, Sergio Paulo; Côrte, Rita Elaine Franciscato; Alexandre, Antonio Carlos; Mühlen, Sérgio Santos
Rev. Bras. Eng. Bioméd., vol.23, n1, p.45-52, 2007
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Resumo
Este trabalho descreve a construção de um dispositivo eletrônico para medição de camada semi-redutora (CSR) em feixes de raios X de aparelhos de radiodiagnóstico. O dispositivo faz uso de um transdutor constituído por três sensores que utilizam o efeito fotoluminescente do cintilador orgânico antraceno. O sinal luminoso, proporcional à radiação incidente, sensibiliza três fotoresistores que fazem parte de um circuito eletrônico de aquisição e registro de medida. Uma das características interessantes deste dispositivo é possibilitar a medida da CSR com apenas uma exposição do feixe de raios X, o que diminui os erros de medição inerentes aos desvios de reprodutibilidade em muitos aparelhos de raios X. Além das características adequadas de sensibilidade e dependência energética, o transdutor construído apresentou baixo custo em relação aos transdutores convencionais. Os resultados obtidos com o protótipo em eposições de 1 s com tensões de 50, 70 e 90 kVp demonstraram a sua viabilidade na medição de CSR e encorajam a sua utilização em serviços de campo.
Palavras-chave
Antraceno, Camada semi-redutora, Fotore sistor, Raios X.
Abstract
This work describes the construction and the validation tests of an electronic device able to measure the half-value layer (HVL) in diagnostic X-ray beams. The device utilizes a transducer assembled with three sensors based on the photoluminescence of the organic scintillator anthracene. The light signal, proportional to the incident radiation, reaches three photo resistors that are part of the electronic acquisition circuitry and measurement register. Besides adequate features of sensitivity and energy response, an interesting feature of this device is the possibility of measure HVL with just one exposure of the X-ray beam, what reduces the measurement errors due to the low reproducibility of some X-ray equipment. Also the assembled transducer presented low cost compared to the conventional measure ment devices. The results obtained with the prototype on exposures of 1 s and 50, 70 e 90 kVp have shown its feasibility and encouraged the use in field services.
Keywords
Anthracene, Half-value layer, Photo resistor, X-ray